回路電阻測試儀采用脈寬調制式高頻開關電源提供大于100A的測試電流，當按下測量鍵時，高頻開關電源輸出大于100A以上的測試電流，同時采樣電路開始采樣，取得的信號經放大器放大，由A/D轉換器將模擬信號轉換成數字信號后，再經微處理器對數據進行濾波、運算、處理，zui后送顯示器顯示出此次測量的電流和電阻值。顯示10秒鐘后，系統自動復位。當被測的回路電阻值小于400μΩ時，測量的zui小分辨率為0.1μΩ，當被測的回路電阻值大于400μΩ時，測量的zui小分辨率為1μΩ。

阻抗分析儀IM3570特點
1.不同測量條件下，1臺進行高速測量
測量電容等零部件時，有時在不同條件下(頻率、電平)測量多種測量項目，1條生產線中需要多臺測量儀器。IM3570可再不同測量條件下進行高速連續測量，1臺儀器即可滿足所有要求。
2. 檢查速度提高了2倍(跟以往型號相比)
和HIOKI的以往型號(3532-50)相比，大大縮短了測量時間。LCR模式下，以往機型一般需要5ms的測量時間，而IM3570的檢查速度提高了2倍。需要全數檢查電子零部件的生產線中，IM3570發揮了作用。
3. 測量的反復精度提高了1位(※1mΩ，100次測量時)
功能性高分子電容在推進低ESR化的同時，要求正確測量多個mΩ。IM3570在測量低阻抗時的精度比以往機型提高了1位，因此為用戶提供穩定測量。
4. 廣范圍的測量頻率
IM3570可在DC和4Hz～5Hz的范圍內設置5位分辨率的頻帶(1kHz以下為0.01Hz分辨率)。可在接近共振頻率的測量和工作條件的狀態下進行測量和評價。
5. 15種測量參數
可測量Z、Y等15種參數，并將需要的參數讀取至計算機中。
6. 具備防止誤操作的接觸檢查功能
裝載了4端子測量、2端子測量的接觸檢查功能。防止在測量電極不接觸被測物的狀態下測量的情況，因此可以避免出現未檢查的產品出廠。
7. 廣范圍的測量電壓/電流
外加一般的開路信號發生，可在恒壓/恒流模式下進行考慮到電壓/電流依存性的測量。可設置廣范圍的、5mV～5V/10μA～50mA(～1MHz)以下的測量信號電平。
8. 測試線可延長至4m